檢測標準參考

ASTM F1404-1992(2007)用液態氫氧化鉀蝕刻技術測定砷化鎵晶體完整性的試驗方法

CECC 12 001- 007 ISSUE 1-1984圖象增強器:夜視設備,合成砷化鎵光電陰極以及電影錄音微通道金屬板用探測聚焦翻轉顯象管

DIN 50454-1-2000半導體工藝材料的檢驗.Ⅲ-Ⅴ化合物半導體單晶中錯位腐蝕斑點密度的測定;砷化鎵

GB/T 4326-2006非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法

GB/T 6494-2017航天用太陽電池電性能測試方法

GB/T 8757-2006砷化鎵中載流子濃度等離子共振測量方法

GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法

GB/T 8760-2020砷化鎵單晶位錯密度的測試方法

GB/T 11068-2006砷化鎵外延層載流子濃度電容-電壓測量方法

GB/T 11093-2007液封直拉法砷化鎵單晶及切割片

GB/T 11094-2020水平法砷化鎵單晶及切割片

GB/T 17170-2015半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2濃度紅外吸收測試方法

GB/T 18032-2000砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗方法

GB/T 19199-2015半絕緣砷化鎵單晶中碳濃度的紅外吸收測試方法

GB/T 20228-2006砷化鎵單晶

GB/T 20228-2021砷化鎵單晶

GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

GB/T 25075-2010太陽能電池用砷化鎵單晶

GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化鎵襯底

GB/T 32280-2015硅片翹曲度測試 自動非接觸掃描法