GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-1部分：試驗 試驗A：低溫
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導則
GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認

低溫試驗可以試驗產(chǎn)品在低限值工作環(huán)境溫度下的性能變化；試驗產(chǎn)品在低溫的情況下能不能夠使用（比如手機能否啟動）；試驗產(chǎn)品在測試是能否帶電測試（比如手機在低溫情況下是否能夠邊充電邊使用）。 電子電工產(chǎn)品低溫試驗目的是考核或確定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗能力，為電工電子產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗服務。

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1、試驗Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗 本試驗方法用來進行非散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時問以達到溫度穩(wěn)定。
2、試驗Ad：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗─試驗樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電 本試驗方法用來進行散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達到溫度穩(wěn)定。
3、試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗—試驗樣品在整個試驗過程通電 本試驗方法用來進行散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗樣品在整個試驗過程中通電。