復(fù)印機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)
健明迪檢測(cè)提供的復(fù)印機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)，試驗(yàn)項(xiàng)目 氣候環(huán)境試驗(yàn)：低溫貯存試驗(yàn)、高溫貯存試驗(yàn)、恒定濕熱貯存試驗(yàn)、交變濕熱貯存試驗(yàn)、溫度/濕度綜合試驗(yàn)、溫度/濕度運(yùn)轉(zhuǎn)試驗(yàn) 機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)：傾斜跌落試驗(yàn)、自由，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)項(xiàng)目
氣候環(huán)境試驗(yàn)：低溫貯存試驗(yàn)、高溫貯存試驗(yàn)、恒定濕熱貯存試驗(yàn)、交變濕熱貯存試驗(yàn)、溫度/濕度綜合試驗(yàn)、溫度/濕度運(yùn)轉(zhuǎn)試驗(yàn)
機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)：傾斜跌落試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)、振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)
機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)：傾斜跌落試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)、振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)
試驗(yàn)背景
復(fù)印機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定復(fù)印機(jī)械產(chǎn)品在低溫、高溫、恒定濕熱、溫度循環(huán)變化的濕熱等環(huán)境條件下運(yùn)輸、貯存試驗(yàn)和工作適應(yīng)性，確定復(fù)印機(jī)械產(chǎn)品及其部件對(duì)在可能受到粗率搬運(yùn)過程中受到的敲擊震動(dòng)及振動(dòng)的適應(yīng)性以及評(píng)價(jià)其結(jié)構(gòu)的完好性。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸閺?fù)印機(jī)械產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗(yàn)、溫度/濕度綜合試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸閺?fù)印機(jī)械產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗(yàn)、溫度/濕度綜合試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
復(fù)印機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為?fù)印機(jī)械產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗(yàn)、溫度/濕度綜合試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
JB/T 9444-2015 復(fù)印機(jī)械基本環(huán)境試驗(yàn)方法
GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）
GB/T 10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）
GB/T 10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
試驗(yàn)范圍
復(fù)印機(jī)械產(chǎn)品：包括靜電復(fù)印機(jī)、重氮復(fù)印機(jī)、辦公用小膠印機(jī)、光電譽(yù)影機(jī)、速印機(jī)和復(fù)印器材
