1、彈跳與高溫綜合試驗
2、彈跳與低溫綜合試驗
3、恒加速度與高溫綜合試驗
4、恒加速度與低溫綜合試驗
確保上述條件的方法有：將試樣裝置的夾具加熱到高于樣品溫度并且使用恒溫器或隔熱罩。這將確定可用于安裝和溫度調節(jié)的時間，該時間內試樣發(fā)生的溫度變化保持在允許范圍內。測試室外絕熱試樣的溫度隨時間變化的模式可以在相關規(guī)范里規(guī)定。

光學和光子學儀器彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗等環(huán)境試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗等環(huán)境試驗服務。

GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-16光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.16-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.2-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力
BS ISO 9022-16光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗
DIN ISO 9022-16光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗
KS B ISO 9022-16光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）